MT41K64M16TW-107 AUT:J vs K4B4G1646E-BYK000 Comparación

Comparación detallada lado a lado de MT41K64M16TW-107 AUT:J por Micron Technology y K4B4G1646E-BYK000 por Samsung Electronics. Compare las especificaciones clave, los parámetros eléctricos, el encapsulado, el estado del ciclo de vida, los precios y la disponibilidad para determinar el mejor componente para los requisitos de su diseño.

Micron Technology
MT41K64M16TW-107 AUT:J MT41K64M16TW-107 AUT:J - 1Gbit DDR3L SDRAM 933MHz | Micron

MT41K64M16TW-107 AUT:J - 1Gbit DDR3L SDRAM 933MHz | Micron

MT41K64M16TW-107 AUT:J ✓ Activo
Samsung Electronics
K4B4G1646E-BYK000 K4B4G1646E-BYK000 - 4Gb DDR3L SDRAM 256Mx16 | Samsung

K4B4G1646E-BYK000 - 4Gb DDR3L SDRAM 256Mx16 | Samsung

K4B4G1646E-BYK000 ✓ Activo

Comparación de especificaciones

Parámetro MT41K64M16TW-107 AUT:J K4B4G1646E-BYK000
Marca Micron Technology Samsung Electronics
Categoría Memory ICs Memory ICs
Estado del ciclo de vida Activo Activo
Estado del stock In Stock In Stock
Precio unitario (USD) $2,85 $0,56
Tipo de memoria SDRAM - DDR3L DDR3L SDRAM
Tamaño de memoria 1 Gbit 4 Gbit
Organización de memoria 64M x 16 256M x 16
Interfaz Parallel Parallel
Clock Frequency 933 MHz 800 MHz
Access Time 20 ns 1.25 ns
Tensión de alimentación 1.35 V (DDR3L), 1.5 V compatible —
Encapsulado 96-FBGA (8 x 14 mm) 96-FBGA (BYK)
Tipo de montaje Surface Mount Surface Mount
Temperature Grade AUT (automotive) —
Temperatura de funcionamiento [DATA_NEEDED: operating temperature range] [DATA_NEEDED: operating temperature range]
Latencia CAS [DATA_NEEDED: CAS latency] —
Refresh Rate [DATA_NEEDED: refresh rate] —
Velocidad de datos 1866 MT/s (DDR3L-1866) —
Termination On-Die Termination (ODT) —
Estado RoHS [DATA_NEEDED: RoHS status] [DATA_NEEDED: RoHS status]
Packaging Tray (T/R per listing) —
Speed Grade — DDR3-1600 (1.25 ns clock cycle)
CAS Latency (CL) — [DATA_NEEDED: CAS latency - 1.25 ns CL grade indicates CL11 but not explicitly stated in provided data]
Supply Voltage (VDD) — 1.35 V (DDR3L), 1.5 V compatible (DDR3)
Number of Banks — [DATA_NEEDED: bank count]
Die Process — Samsung E-die
Características — Auto precharge, asynchronous reset, ZQ calibration, dynamic on-chip termination, data mask

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